XRF-2000測厚儀韓國Micropioneer

型號規(guī)格

L型：測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg

H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg

儀器整機(jī)*，配置全自動臺面，自動雷射對焦,多實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)自動測量

XRF-2000測厚儀韓國Micropioneer

將X射線照射在樣品上

通過從樣品上反射出來的第二次X射線強(qiáng)度來測量鍍層等金屬鍍層的厚度。

金屬鍍層厚度的測量方法有多種，其中X射線熒光法是無接觸無損測量

可測單鍍層、雙鍍層、合金鍍層，不受底材影響。

應(yīng)用：

各種金屬或塑膠電子零件,五金工件,端子連接器等

表面鍍銅鎳銀鋅錫及鋅鎳合金等電鍍層厚度測量

測量原理：

物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等，不限底材。